声学性能测试系统（阻抗管）
本系统可测量的声学参数如下： 1. 基于双麦克风法的法向入射特性测量：可测定样品的吸声系数、反射系数及声阻抗率。 2. 基于四麦克风法的法向入射特性测量：可测定样品的吸声系数、反射系数...
搜索结果
漏电起痕试验_绝缘材料漏电起痕测试
本试验旨在评价固体绝缘材料表面在电场与污染介质联合作用下的耐受能力，通过测试测定其相对漏电起痕指数（CTI）和耐漏电起痕指数（PTI）。 1. 相对漏电起痕指数（Comparative...
微波谐振腔_微波波段谐振电路
本测试服务提供开放式谐振腔与屏蔽式谐振腔两种配置，主要用于测定微波介质材料的介电常数及切向损耗。 可测量的技术参数包括：S参数、介电常数、介电损耗以及温漂系数。 相关测试指标如下： -...
电池性能测试
本项测试主要针对电池的电化学性能进行评估，具体测试内容涵盖充放电测试、循环性能测试、倍率性能测试以及比容量测试。
半导体光电测试_半导体含量分析
该系统适用于二极管、场效应管及太阳能电池等半导体器件的电学性能与光电特性测试，能够同步测量并分析电流-电压（I-V）特性、电容-电压（C-V）特性以及超快速脉冲式 I-V 特性。
深能级瞬态谱DLTS_半导体深能级缺陷检测
深能级瞬态谱（Deep Level Transient Spectroscopy, DLTS）是一种高灵敏度的电学表征技术，主要用于定量检测半导体材料中微量杂质、深能级缺陷及界面态。通...
振动样品磁强计（VSM）
振动样品磁强计（Vibrating Sample Magnetometer, VSM）是表征材料磁性能的关键分析手段，广泛应用于铁磁、亚铁磁、反铁磁、顺磁及抗磁材料的磁特性研究。其适用...
BH LOOP分析仪_磁化曲线和磁滞回线测量
本测试采用亥姆霍兹线圈提供磁场，能够实现小磁场环境下磁矩的精准控制与测量。该分析项目适用于软磁材料的磁化曲线及磁滞回线的表征测量。
D33测试(压电常数测试)
压电常数 d33 是衡量压电陶瓷性能的关键特性参数。它定义为压电介质将机械能转换为电能（或将电能转换为机械能）的比例常数，表征了材料在应力/应变与电场/电位移之间的量化关系，直接反映了...
绝缘电阻测试仪_材料绝缘性能测试
绝缘电阻是指在绝缘结构的两个电极之间施加直流电压时，该电压与流经电极间的泄漏电流之比。 绝缘电阻的数值能够直观地反映材料的绝缘性能。高质量的绝缘材料由于内部电荷迁移受限，产生的泄漏电流...
电导率测试
电导率（Electrical Conductivity）在数值上为电阻率（Electrical Resistivity）的倒数，用于表征材料传导电流的能力。 针对不同形态的样品，采用相...
微波暗室远场测试系统_天线参数测试
本测试系统主要应用于卫星、导弹、雷达、通信及导航等各类信息化装备配套天线的性能参数测试领域。