原位EBSD测试（In-situ EBSD）
EBSD（电子背散射衍射）分析功能涵盖以下方面： 1. 微观组织分析：可对晶粒尺寸及其分布均匀性、孪晶的存在情况及其体积分数、再结晶晶粒与亚晶、晶界特性以及相鉴定与相分布等进行定量和定...
搜索结果
无损磁粉检测MT_无损探伤
磁粉检测（MT）主要用于铁磁性材料及工件的缺陷检测。其基本原理为：将铁磁性工件磁化后，若其表面或近表面存在不连续性，会导致磁力线发生局部畸变并产生漏磁场。通过在工件表面施加磁粉，磁粉会...
低场核磁共振成像系统（MRI）
低场核磁共振（Low-Field Nuclear Magnetic Resonance, LF-NMR/MRI）是一种高效、无损的分析检测技术。该技术具有检测速度快、灵敏度高、无损且环...
材料冷冻扫描电镜(Cryo-SEM)
采用冷冻技术可有效避免细胞在制样过程中产生变形，从而更好地保留其天然状态。该技术具有制样流程简单、快捷的特点。通过扫描电子显微镜（SEM）可对样品的微观形貌进行观察，并可同步进行能谱分...
岩石薄片分析_透反两用偏光显微镜测试
透反两用偏光显微镜配备专业的图像分析系统，适用于岩石及矿物样品的微观表征分析。该测试可用于分析样品的组分含量、结构特征、空间分布类型以及孔隙结构等关键信息。
聚光镜球差透射（AC-STEM）
该设备为双球差校正透射电子显微镜，可在透射（TEM）和扫描透射（STEM）模式下显著提升分辨率，其分辨率可达60pm以下。 设备配备四个高效能谱探头，能够实现原子级尺度的化学成分分析。...
亚微米分辨红外-拉曼-荧光联用系统
亚微米分辨红外-拉曼-荧光联用系统是一套多模态显微分析平台，通过集成红外光谱（IR）、拉曼光谱（Raman）与荧光光谱技术，可在亚微米尺度（<1 μm）下实现对样品化学组成、微观...
紫外光电子能谱（UPS）
紫外光电子能谱（Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy, UPS）是一种利用紫外线作为激发光源的光电子能谱分析技术，主要用于测定导体或半导体材料的...
全岩定量分析_XRD全岩矿物定量分析
X射线衍射（X-ray diffraction, XRD）基于X射线与晶体相互作用产生的衍射现象。当X射线照射至晶体样品时，会产生特定的衍射峰，其峰位、形状及强度与晶体的结构、化学成分...
位错密度计算_XRD位错密度测量
本测试项目旨在利用X射线衍射（XRD）技术，对材料的位错密度进行定量计算与分析。
红外反射率_红外透过率检测
本测试项目提供多种反射率测试附件，可根据具体需求选择镜面反射或漫反射模式。为进一步降低反射损耗，可配置积分球进行测量。具体测试方案需根据样品的表面形貌及物理特性进行合理选择。 关于发射...
摇摆曲线（XRD-Rocking）测试
摇摆曲线（Rocking Curve）测试是通过将X射线的入射角 $\theta$ 固定，使样品绕特定晶面法线方向进行小角度的摇摆（旋转），并记录衍射峰强度随旋转角度（摇摆角）的变化而...