扫描电化学显微镜（SECM）测试

原理：将一根直径微米甚至纳米级的超微电极作为探针，在靠近样品表面的溶液中沿X、Y、Z方向进行精确扫描。通过在探针上施加电位，使溶液中的电活性物质发生氧化或还原反应，产生法拉第电流。当探针靠近导体样品时，反应产物在样品表面被逆向反应，循环回到探针，使电流增大，称为“正反馈”；当探针靠近绝缘样品时，电活性物质向探针的扩散受到物理阻碍，电流减小，称为“负反馈”。探针电流的大小与探针-样品间距及样品的电化学性质直接相关，由此可获得样品表面微区的电化学信息。

工作模式：

• 反馈模式：根据探针电流增强或减弱来判断基底是导体还是绝缘体，是SECM最基础的工作模式。
• 产生/收集模式：在探针（或基底）上产生电活性物质，然后在基底（或探针）上收集并检测，用于研究电极反应的中间产物或反应机理。
• 氧化还原竞争模式：探针与基底同时消耗溶液中的电活性物质，用于评估基底催化活性。

分析对象：金属、半导体、绝缘体、生物膜、活细胞、腐蚀涂层、能源材料等。

应用领域：电化学动力学研究（快速异相电子转移、催化活性位点表征）；腐蚀科学（局部腐蚀机理、涂层缺陷检测）；生物电化学（酶活性成像、活细胞代谢监测）；能源材料（电池/燃料电池电极活性分布、催化剂评价）；微纳加工（表面刻蚀、局部沉积）。