X射线荧光光谱（XRF）

原理：X射线管产生的一次X射线照射样品，激发出样品中各元素原子内层电子，形成空穴，外层电子跃迁回内层填补空穴时释放出具有特征能量的二次X射线（即荧光X射线）。探测系统记录荧光X射线的能量和强度，各元素的特征能量用于定性识别，峰强度经基体校正后与含量呈正比，用于定量计算。根据激发、探测和光路系统的不同，分为波长色散型（WDXRF）和能量色散型（EDXRF）两类，前者分辨率高、适用元素范围宽，后者结构紧凑、可多元素同时分析。

分析对象：固体、粉末、压片、熔片及液体样品，覆盖元素周期表中从氧（O，原子序数8）至铀（U，原子序数92）范围内的主量、微量及痕量元素（轻元素检测需特殊配置）。

应用领域：地质与矿产（岩石全岩主微量元素分析、矿石品位评价）；冶金与材料（合金成分分析、镀层厚度测定）；环境科学（土壤/沉积物重金属污染调查、大气颗粒物元素指纹）；建材与陶瓷（水泥、玻璃、耐火材料成分质控）；文物考古（古陶瓷、青铜器、玻璃制品元素溯源）；石油化工（催化剂、润滑油中添加剂元素监测）；食品安全（食品中有害重金属元素筛查）。